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Dr. Daniel Haufe on “Take a look at the wafer” – application of optical metrology at Infineon –

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Date/Time
Date(s) - 10/04/2018
7:00 pm - 8:30 pm

Location
HängeMathe

Categories Keine Kategorien


Research meets industry! We give a warm welcome to our former colleague Dr. Haufe who will hold a speech “Take a look at the wafer” – application of optical metrology at Infineon – within our lecture series (Tue, 10th April, 7p.m., Club HängeMathe e.V.). We are looking forward to get insights into optical metrology at Infineon 🙂

2 thoughts on “Dr. Daniel Haufe on “Take a look at the wafer” – application of optical metrology at Infineon –

  1. Thomas Wagner

    Liebe Mitglieder des SPIE students chapters,

    ich interessiere mich für die von Euch veranstaltete Vortragsreihe. Speziell zum Vortrag von Dr. Haufe "Take a look at the wafer" vom 10.4.2018 würde ich gern mehr erfahren.

    Evtl. ist es möglich Material zu dem Vortrag und Kontakt zu Dr. Haufe zu bekommen?

    Vielen Dank
    Thomas Wagner.

    Reply
    1. spie_dd_wordpress

      Sehr geehrter Herr Wagner,
      vielen Dank für Ihren Kommentar und Ihr Interesse an unserer Vortragsreihe.
      Leider können wir hier keine Folien und Kontaktdaten veröffentlichen, wir werden uns aber per Mail bei Ihnen melden.
      Freundliche Grüße aus Dresden
      SPIE Student Chapter

      Reply

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